便携式现场PID测试仪(电位诱发衰减)测试仪,适用于不同类型和尺寸的晶体硅组件,无需拆装,测试时间在8小时之内(测量时间将少于8小时)。PIDcheck是与德国Fraunhofer CSP Halle合作开发的。
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